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產(chǎn)品中心

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超聲掃描顯微鏡

產(chǎn)品描述:超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用于對材料科學(xué),半導(dǎo)體行業(yè)等相應(yīng)產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷檢測,利用高速線性馬達運動系統(tǒng),對產(chǎn)品進行水浸C 掃描檢測,全波列采集超聲波信號,利用成像算法和數(shù)據(jù)圖像處理功能,對產(chǎn)品內(nèi)部的缺陷進行有效識別,得到內(nèi)部清晰圖像,并統(tǒng)計分析缺陷位置、形狀和尺寸,生成自定義報告。
  • 產(chǎn)品型號

    DLT-QC-210
  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時間

    2024-06-25
  • 訪問量

    1124次

超聲波C 掃描檢測系統(tǒng) DLT-QC-210

產(chǎn)品介紹

超聲掃描顯微鏡

超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用于對材料科學(xué),半導(dǎo)體行業(yè)等相應(yīng)產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷檢測,利用高速線性馬達運動系統(tǒng),對產(chǎn)品進行水浸C 掃描檢測,全波列采集超聲波信號,利用成像算法和數(shù)據(jù)圖像處理功能,對產(chǎn)品內(nèi)部的缺陷進行有效識別,得到內(nèi)部清晰圖像,并統(tǒng)計分析缺陷位置、形狀和尺寸,生成自定義報告。

二、產(chǎn)品特點 FEATURES

適用產(chǎn)品:芯片、塑料封裝IC、PCB、金屬基板、晶片、半導(dǎo)體電子行業(yè);Applicable products: chips, plastic packaging IC, PCB, metal substrates,

檢測結(jié)果穩(wěn)定性、 一致性高;

High stability and consistency of test results;

高速定位,快速成像;

High-speed positioning and fast imaging;

操作簡單,使用安全,檢測結(jié)果格式多樣化;

Simple operation, applicable safety, flexible and varied formats of test results;


技術(shù)參數(shù) SPECIFICATIONS

運動系統(tǒng)/Motion system  

XY軸掃描范圍/Scanning range of XY axis 300*300mm   (可定制/Customizable)

掃描速度/Scanning speed                                 1000mm/s

重復(fù)精度/Repetition precision                                 1um


超聲發(fā)射接收/   Ultrasonic emission and reception

工作頻率范圍/Operating frequency range 0.5MHz~60MHz

激勵脈沖形式/Excitation pulseform                 方波/Square wave

工作溫度/Working temperature                 -10℃~+50℃

采樣率/Sampling rate                                 100MHz,  可支持,GHz/100MHz,Support IGHz

重復(fù)頻率/Repetition frequency                  20khz

數(shù)據(jù)傳輸率/Data transfer rate                                  5G

采樣點數(shù)/Sampling points                                  4K (可定制)/4K(Customizable)

增益調(diào)節(jié)/Gain adjustment                                 -13~66dB 連續(xù)1dB 可調(diào)/- 13~66dB  continuous  IdB  adjustable


軟件功能/Software function

A、B、C、D掃描圖像                                                  界面跟蹤、區(qū)域重掃

A,B,C, D scanning imaging                                  Interface tracking, area re-scanning

多種特征成像方式/Multiple imaging methods  多種數(shù)據(jù)處理、圖像處理方式

                                                                                  Multiple data processing and image processing methods

缺陷定位統(tǒng)計分析/                                                       數(shù)據(jù)庫統(tǒng)計、自定義報告模板/

Statistical analysis of defect location                         Database statistics, customizable report template



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