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如何校準硅酸根測定儀?

發(fā)布日期:2021-05-17        訪問次數(shù):1582


硅酸根測定儀校準項目
(1)外觀檢查;(2)絕緣電阻(首檢);(3)分析儀示值誤差;(4)分析儀重復(fù)性;(5)分析儀零點漂移;(6)分析儀量程漂移
硅酸根測定儀校準的項目指標
(1)示值誤差校準(用引用誤差)
在SiO2含量為0~50 u g / mL的范圍內(nèi),示值誤差不大于其量程的2.0%在SiO2含量為0~200 u g / mL的范圍內(nèi),示值誤差不大于其量程的2.5%。
(2)分析儀重復(fù)性的校準(用多次測量的標準偏差表示)分析儀重復(fù)性測量的標準偏差不大于1.5%。
(3)分析儀零點漂移的校準:在15min內(nèi)應(yīng)不超過1.0 u g / mL。
(4)分析儀量程漂移的校準:在15min內(nèi)應(yīng)不超過2.0 u g / mL。

 

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